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Morphologie der Materialfläche
Raster-Elektronen-Mikroskop(Leitz ISI 60)
Für Aufnahmen bis > 100.000-facher Vergrößerung
Lichtmikroskope(Zeiss Ultraphot 3 + Leitz Orthoplan)
Interferenz-Kontrast nach Normarski Partikelbetrachtung auf Oberflächen (Dunkelfeld) + Fluoreszenz
Raster-Elektronen-Mikroskop
Zeiss Ultraphot 3
Clear & Clean GmbHTel.+49-451-389500Fax +49-451-38171info@clearclean.de
Classoon Kunstedition eine Abteilung der Clear & Clean GmbH
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